FPD/LSI檢查顯微鏡 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N

這一系列的顯微鏡是檢查硅片、顯示屏等大型樣品的理想選擇。

用于檢查大型樣品的高級顯微鏡

采用尼康CFI60-2光學系統設計，成像清晰；可搭配數碼相機。

尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)

用于硅片（L200N系列為200mm，L300N系列為300mm）、分劃板和其它大型平板類電子零部件的光學檢查。

尼康CFI60-2光學系列

尼康的創新設計，支持實現清晰的、高對比度的明場、暗場、熒光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）鏡檢，以及雙光束干涉測量。

尼康Digital Sight數碼相機

尼康全系列Digital Sight數碼相機都能高效地進行拍照，并可將當前在用物鏡、倍率轉換設置和照明光亮度等參數一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。

L200N與NWL200聯合使用

在半導體行業中得到廣泛認可和信任，目前有許多裝置在使用。

產品亮點

尼康CFI60-2光學系統

尼康的創新設計光學系統成像清晰，支持多種顯微鏡鏡檢。

反射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場、暗場、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、熒光和雙光束干涉；

多種鏡檢方式

透射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場、暗場、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。

數字化智能通信

顯微鏡通過USB與尼康NIS Elements軟件相連，可檢查并控制物鏡轉換、照明亮度、光闌動作等。

人體工學設計

使用傾角可調的目鏡筒，可使操作者更為舒適地觀察樣品，消除疲勞。

主要用于觀察原材料、半導體和工業零部件。

核心功能

行業

主要用途集中在電子通訊領域的零部件檢查，如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來有效地檢查光刻膠殘留，檢查有機EL顯示屏。

*僅L300N/L300ND/L200ND

技術規格：