數碼顯微鏡相機DP75

面向挑戰性應用的高級數碼顯微鏡攝像頭（數碼顯微鏡相機DP75）

使用功能強大的DP75數碼顯微鏡攝像頭，讓您的顯微鏡檢查更加高效。這款高性能工具專(zhuān)為各種應用定制，可讓您捕捉高分辨率明場(chǎng)、暗場(chǎng)、混合(明場(chǎng)和暗場(chǎng))、偏振、DIC、熒光和近紅外(NIR)觀(guān)察*圖像。

*需要用于近紅外觀(guān)察的顯微鏡系統--數碼顯微鏡相機DP75

具有挑戰性的檢測應用的成像

更清晰和精que

DP75數字顯微鏡攝像頭可提供清晰、低噪音的檢測圖像。

改進(jìn)的多軸色彩校正技術(shù)可提供出色的色彩保真度，實(shí)現逼真的再現，以及印刷材料、LCD濾色片和其他應用所需的RGB色彩再現性。

  打印紙的圖像

高分辨率下的快速幀速率

憑借超過(guò)4k分辨率下22 fps的快速幀速率和全高清分辨率下60 fps的快速幀速率，您可以在快速移動(dòng)的同時(shí)檢查實(shí)時(shí)圖像，從而加快您的檢測和分析工作流程。

                                     晶片的圖像

低放大率下的高分辨率圖像

攝像機的像素移動(dòng)功能使得即使在低放大倍數下也能捕捉高分辨率圖像，最da分辨率為8192 × 6000，使您能夠在檢測報告中添加更多視覺(jué)細節。

無(wú)像素偏移(左)和有像素偏移(右)

由于DP75相機使用USB 3.1 Gen2，它與大多數PC兼容，可以很容易地作為當前系統的升級來(lái)購買(mǎi)。

快速找到缺陷

樣品的外觀(guān)會(huì )因材料質(zhì)量、表面條件或照明方法而異。為了準確顯示樣品，相機的實(shí)時(shí)高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)結合了在不同曝光下拍攝的幾幅圖像，以校正樣品表面的亮度差異。實(shí)時(shí)HDR提供了高保真圖像，不僅顯示了紋理，還顯示了以前無(wú)法檢測到的瑕疵和缺陷。眩光也減少了更舒適的觀(guān)察。

  通過(guò)HDR去除光暈                                                                  通過(guò)HDR的紋理增強

                                (示例:印刷電路板(PCB))                                                           (示例:印刷電路板(PCB))

DP75攝像機在使用0.63倍攝像機適配器(紅色框架)時(shí)的視野，與DP74(舊款)攝像機在使用0.63倍攝像機適配器(藍色框架)時(shí)的視野相比較。

在一個(gè)圖像中查看更多內容

攝像機的寬視野(FN 26.5)使您能夠快速觀(guān)察大面積區域，使您的檢查更快、更有效。

使用相同的顯微鏡攝像頭輕松實(shí)現熒光到紅外成像

DP75相機設計用于各種應用，集成了許多優(yōu)點(diǎn)，包括高靈敏度冷卻CMOS傳感器和可切換紅外(IR)截止濾光片。好處包括:

*覆蓋廣泛的波長(cháng)范圍:DP75支持從可見(jiàn)光到1000納米的波長(cháng)，使您能夠捕捉高質(zhì)量的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、混合(明場(chǎng)+暗場(chǎng))、偏振、DIC、熒光和NIR*觀(guān)察圖像。

*噪聲極低的清晰熒光圖像:即使熒光很弱，也能捕捉到高質(zhì)量的圖像，這對檢測抗蝕劑殘留物等應用很有幫助。

*需要顯微鏡系統進(jìn)行近紅外觀(guān)察

半導體晶片上光刻膠殘余物的混合(熒光+暗場(chǎng))觀(guān)察圖像

一部分礦物的偏振觀(guān)察圖像

柔性板的明視場(chǎng)觀(guān)察圖像。

柔性板的近紅外觀(guān)察圖像。

數碼顯微鏡相機DP75